| 测量范围 | 0-1250um |
|---|---|
| 产地 | 北京 |
| 电源 | 直流 |
| 电源电压 | 3V |
| 分辨率 | 0.1um |
| 类型 | 涂层测厚仪 |
| 显示方式 | 数显 |
| 屏幕色彩 | 单色 |
| 品牌 | 时代检测 |
| 型号 | ATX200 |
| 质量认证 | ISO9001-2000 |
ATX200涂层测厚仪概况
ATX200涂层测厚仪配置嵌入式传感器，采用磁性法，可用于无损测量磁性基体上非磁性涂镀层厚度，符合以下工业规范和标准： GB/T 4956磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法 JB/T 8393磁性和涡流式覆层厚度测量仪 DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、稳定，简单、可靠、可用于现场快速测量等特点，配置集成测量探头，可无损、快速、精密地进行磁性金属表面非磁性涂镀层厚度测量，易于操作，广泛应用于工业、电镀业、船舶、桥梁、航空、工程、化工等领域。
ATX200涂层测厚仪原理
ATX200涂层测厚仪的工作原理是基于以磁性法测量导磁性金属基体(如钢、铁、合金钢、硬磁性钢等，但不包括奥氏体钢和软磁性钢等)上非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、橡胶、铝、铬、铜、锡等)的厚度。当测头接触铁磁基体(或其他磁性金属)时形成一闭合磁路，由于涂镀层的存在，穿过线圈的磁通量与涂镀层厚度的变化会导致磁路磁阻发生变化，通过测量其变化便可通过计算导出涂镀层的厚度。
ATX200涂层测厚仪技术参数
l 测量方法:磁性法
l 测量范围:0-1250um(0-50mil)
l 分辨率:0-999um;0.1um ≥1000um;1um
l 精度:≤100um;±2um 101-1250um;≤2.5%
l 数据存储:500 条
l 显示:带背光点阵液晶屏(128X64)
l 电源:1.5VX3(AAA 干电池)
l 使用温度:0-50°C
l 规格:128X51X31 mm
l 重量:110g
ATX200涂层测厚仪基本配置
| l涂层测厚仪 | 1台 |
| l标准厚度片 | 5片 |
| l校准基体 | 1个 |
| lAAA1.5V 碱性电池 | 3节 |
| l随机文件 | 1套 |